Journal Of Electronic Imaging杂志简介
Journal Of Electronic Imaging是由IS&T & SPIE出版商主办的计算机科学领域的专业学术期刊，自1992年创刊以来，一直以高质量的内容赢得业界的尊重。该期刊拥有正式的刊号（ISSN：1017-9909，E-ISSN：1560-229X），出版周期Quarterly，其出版地区设在UNITED STATES。该期刊的核心使命旨在推动计算机科学专业及工程电子与电气学科界的教育研究与实践经验的交流，发表同行有创见的学术论文，提倡学术争鸣，激发学术创新，开展国际间学术交流，为计算机科学领域的发展注入活力。
该期刊文章自引率，开源内容占比0.0433，出版撤稿占比0.0078...，OA被引用占比0.0554...，读者群体主要包括计算机科学的专业人员，研究生、本科生以及计算机科学领域爱好者，这些读者群体来自全球各地，具有广泛的学术背景和兴趣。Journal Of Electronic Imaging已被国际权威学术数据库“SCI（Science Citation Index） 、 SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收录，方便全球范围内的学者和研究人员检索和引用，有助于推动工程电子与电气领域的研究进展和创新发展。
CiteScore
- CiteScore：1.70
- SJR：0.243
- SNIP：0.420
| 学科类别 |
分区 |
排名 |
百分位 |
|
大类：Engineering
小类：Electrical and Electronic Engineering
|
Q3
|
508 / 738
|
|
|
大类：Engineering
小类：Computer Science Applications
|
Q3
|
569 / 792
|
|
|
大类：Engineering
小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics
|
Q4
|
161 / 211
|
|
CiteScore: 这一创新指标力求提供更为全面且精确的期刊评估，打破了过去仅依赖单一指标如影响因子的局限。它通过综合广泛的引用数据，跨越多个学科领域，从而确保了更高的透明度和开放性。作为Scopus中一系列期刊指标的重要组成部分，包括SNIP（源文档标准化影响）、SJR（SCImago杂志排名）、引用文档计数以及引用百分比。Scopus整合以上指标，帮助研究者深入了解超过22,220种论著的引用情况。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各个指标的详细信息。
Journal Of Electronic Imaging中科院分区表
中科院分区 2022年12月升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 计算机科学 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
|
4区
4区
4区
|
是 |
是 |
中科院分区 2021年12月基础版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
|
4区
4区
4区
|
是 |
是 |
中科院分区 2021年12月升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 计算机科学 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
|
4区
4区
4区
|
是 |
是 |
中科院分区 2020年12月旧的升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 计算机科学 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
|
4区
4区
4区
|
是 |
是 |
WOS期刊JCR分区
| JCR 分区等级 |
JCR 学科 |
分区 |
| Q4 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
Q4 |
| IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY |
Q4 |
| OPTICS |
Q4 |
JCR（Journal Citation Reports）分区，也被称为JCR期刊分区，是由汤森路透公司（现在属于科睿唯安公司）制定的一种国际通用和公认的期刊分区标准。JCR分区基于SCI数据库，按照期刊的影响因子进行排序，按照类似等分的方式将期刊划分为四个区：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分区的标准与中科院JCR期刊分区（又称分区表、分区数据）存在不同之处。例如，两者的分区数量不同，JCR分为四个区，而中科院分区则分为176个学科，每个学科又按照影响因子高低分为四个区。此外，两者的影响因子取值范围也存在差异。
历年发文数据
| 年份 |
年发文量 |
文章量 |
综述量 |
| 2020 |
147 |
147 |
0 |
| 2019 |
227 |
227 |
0 |
| 2018 |
302 |
301 |
1 |
| 2017 |
224 |
220 |
4 |
| 2016 |
186 |
186 |
0 |
| 2015 |
190 |
190 |
0 |
期刊互引关系
| 被他刊引用情况 |
| 期刊名称 |
引用次数 |
| IEEE ACCESS |
167 |
| J ELECTRON IMAGING |
163 |
| MULTIMED TOOLS APPL |
118 |
| SENSORS-BASEL |
67 |
| SIGNAL PROCESS-IMAGE |
44 |
| APPL SCI-BASEL |
29 |
| IEEE T IMAGE PROCESS |
29 |
| IET IMAGE PROCESS |
29 |
| OPT EXPRESS |
27 |
| NEUROCOMPUTING |
26 |
| 引用他刊情况 |
| 期刊名称 |
引用次数 |
| IEEE T IMAGE PROCESS |
573 |
| IEEE T PATTERN ANAL |
435 |
| J ELECTRON IMAGING |
163 |
| PATTERN RECOGN |
159 |
| INT J COMPUT VISION |
153 |
| NEUROCOMPUTING |
118 |
| IEEE T CIRC SYST VID |
105 |
| ACM T GRAPHIC |
74 |
| MULTIMED TOOLS APPL |
74 |
| PATTERN RECOGN LETT |
73 |
若用户需要出版服务，请联系出版商：I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。
